ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ =Reports NAS RA

Efficient Implementation of Physical Addressing for Testing, Diagnosis and Repair of Embedded SRAMs for Yield Improvement

Aleksanyan, K. K. (2006) Efficient Implementation of Physical Addressing for Testing, Diagnosis and Repair of Embedded SRAMs for Yield Improvement. ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ, 106 (1). pp. 31-40. ISSN 0321-1339

[img]PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
299Kb

Abstract

Աշխատանքում լայնորեն կիրառվող տրամաբանականի փոխարեն առաջարկվում է ֆիզիկական հասցեավորում օգտագործող, ինքնատեստավորվող և ինքնավերանորոգվող (ԻՏևՎ) հիշողության համակարգերի (ԻՀՀ) ավտոմատ գեներացիայի արդյունավետ մեթոդ: Միջոց է ներդրվում ԻՀՀ-ում, որպեսզի տեստավորող, ախտորոշող և վերանորոգող սխեմաները հաշվի առնեն հիշողության ֆիզիկական կառուցվածքը և դրանով նկատելիորեն մեծացնեն ԻՀՀ-ի արտադրության օգտակար ելքը: Նույն միջոցը կարող է օգտագործվել նաև հետագա ախտորոշման և վրիպազերցման ժամանակ: Առաջարկվող մեթոդը իրականացվել և ստուգվել է մի քանի ԻՀՀ կոմպիլյատորների համար: Փորձնական արդյունքները ցույց են տվել արտադրության օգտակար ելքի նկատելի աճ` ապարատային միջոցների փոքր աճի դեպքում: Предлагается эффективный способ автоматической генерации самотестирующих и восстанавливающих (СТИВ) систем памяти (ССП) с физической адресацией вместо широко используемой логической. Средство внедрено в ССП для тестирующих, диагностирующих и восстанавливающих схем с тем, чтобы учитывать физическую структуру схем памяти и таким образом значительно улучшить выход годных изделий ССП. То же самое средство можно будет использовать для дальнейшей отладки и диагностики. Предлагаемый метод был реализован и проверен для нескольких компиляторов памяти. Экспериментальные результаты показали значительное увеличение выхода годных изделий с небольшим увеличением аппаратных средств.

Item Type:Article
Additional Information:Ֆիզիկական հասցեավորման արդյունավետ իրականացում հիշողության սխեմաների անսարքությունների հայտնաբերման, ախտորոշման և վերանորոգման միջոցով օգտակար ելքի մեծացման համար / Կ. Կ. Ալեքսանյան։ Эффективная реализация физической адресации для тестирования, диагностики и восстановления схем памяти для увеличения выхода годных изделий / К. К. Алексанян.
Uncontrolled Keywords:RAM, memory model, BIST, redundant element, yield
Subjects:Q Science > QA Mathematics > QA76 Computer software
ID Code:1451
Deposited By:NAS Reports
Deposited On:12 Oct 2011 15:00
Last Modified:13 Mar 2014 08:16

Repository Staff Only: item control page