Азарян, М. Г. and Арутюнян, В. М. (2006) О возможности создания режима ближнего поля для наноисследований в электронике. ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ, 106 (4). pp. 319-326. ISSN 0321-1339
![]() | PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader 233Kb |
Abstract
Էքսպերիմենտալ նանոհետազոտություններ կատարելու համար առաջարկվում է թունելահոսանքային զոնդավորմամբ սարքավորման օգնությամբ մի պարզ և էժանագին մեթոդ, որտեղ իրագործվում է մոտիկ-կարգի դաշտերի ռեժիմ, երբ ի հայտ են գալիս զոնդ/հետազոտվող մակերևույթ նանոմասշտաբային բացակի օրինաչափությունները: Նախագծված և ստենդի տեսքով հավաքված սարքավորման նախնական հետազոտությունները ցույց են տալիս, որ դրանց օգնությամբ հնարավոր է լուծել ելակետային խնդիրը: An idea of the simple and not expensive tunnel-current probe equipment is advanced. It offers the possibility of carrying out nano-investigations. The equipment realizes short-range field regime wherein the regularities of nanoscale probe/surface under study compliance come into play. The previous investigations of the developed-designed device in the desk form revealed that the initial goal can be attained using the advanced equipment.
Item Type: | Article |
---|---|
Additional Information: | Էլեկտրոնիկայում նանոհետազոտություններ կատարելու նպատակով մոտիկ դաշտի ռեժիմ ստեղծելու պարզ հնարավորության մասին; On the Simple Opportunity of Realizing Short-range Field Regime for Nano-investigations in Electronics |
Uncontrolled Keywords: | Ազարյան Մ. Հ., Հարությունյան Վ. Մ., Azaryan M. H., Haroutyunyan V. M., нанотехнология, зондовая микроскопия, ближнее поле, наномасштабный зазор |
Subjects: | Q Science > QC Physics |
ID Code: | 1482 |
Deposited By: | NAS Reports |
Deposited On: | 17 Oct 2011 12:19 |
Last Modified: | 29 Apr 2020 18:22 |
Repository Staff Only: item control page