ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ =Reports NAS RA

Built-In Test Flow for FinFET-based Memory Devices

Tshagharyan, G. A. (2015) Built-In Test Flow for FinFET-based Memory Devices. ՀՀ ԳԱԱ Զեկույցներ, 115 (4). pp. 276-283. ISSN 0321-1339

[img]
Preview
PDF - Requires a PDF viewer such as GSview, Xpdf or Adobe Acrobat Reader
356Kb

Abstract

Rapidly developing FinFET technology, alternative to the conventional planar technology, plays an important role in routing modern silicon industry. Due to their unique structure, the defect types and corresponding fault models for FinFET transistors are different compared to planar ones. As a result the established flow used for synthesizing the embedded test solutions for MOSFET-based memory devices does not enable a smooth transition to FinFET-based devices. Արագորեն զարգացող ՖինՖԵՏ տեխնոլոգիան՝ ավանդական պլանար տեխնոլոգիայի այլընտրանքը, շատ կարևոր դեր է խաղում ժամանակակից սիլիկոնային արդյունաբերության ուղղորդման գործում: Շնորհիվ իրենց յուրահատուկ կառուցվածքի` ՖինՖԵՏ տրանզիստորների դեֆեկտների տիպերը և համապատասխան անսարքությունների մոդելները տարբերվում են պլանար տրանզիստորներից: Արդյունքում ներդրված հիշող սարքերի թեստավորում անլուծումների սինթեզման համար օգտագործվող ամրագրված ընթացակարգը չի կարող սահուն կիրառվել ՖինՖԵՏ հիշող սարքերի համար: Быстро развивающаяся технология ФинФЕТ, альтернатива существующей планарной технологии, играет важную роль в развитии современной силиконовой промышленности. Благодаря их уникальной структуре типы дефектов и соответствующие модели неисправностей для ФинФЕТов отличаются по сравнению с планарными транзисторами. В результате уже существующая процедура, используемая для синтеза встроенных решений по тестированию устройств памяти, основанных на технологии МОСФЕТ, не позволяет плавно перейти к устройствам памяти, основанным на технологии ФинФЕТ.

Item Type:Article
Additional Information:ՖինՖԵՏ հիշող սարքերի ներդրված թեստավորման ընթացք / Գ. Ա. Ճաղարյան։ Последовательность встроенного тестирования для устройств памяти, основанных на технологии ФинФЕТ / Г. А. Джагарян.
Uncontrolled Keywords:FinFET, defect, fault modeling, test algorithm
Subjects:Q Science > QA Mathematics > QA75 Electronic computers. Computer science
ID Code:6257
Deposited By:NAS Reports
Deposited On:21 Jan 2016 12:41
Last Modified:21 Jan 2016 12:41

Repository Staff Only: item control page